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三菱電機・NEC・東大生研、国内初の量子暗号システムの相互接続実験に成功 |
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三菱電機株式会社、日本電気株式会社（以下、NEC）、東京大学生産技術研究所（以下、東大生研）は5月12日、量子暗号システムの相互接続実験に国内で成功したと発表した。今回の成果は、情報通信研究機構（以下、NICT）の委託研究「量子暗号技術の研究開発」プロジェクトにおいて、三菱電機とNECがそれぞれ開発した量子暗号システムをベースに、新たに改良を加えたシステムによって実現したもの。 量子暗号は、光子の量子状態を利用してデータを運ぶもので、盗聴されたことを必ず検出できるのが特長。しかし、暗号アルゴリズムの詳細や通信に必要な光学機器の構成が標準化されていないため、国内で異なるシステム間を相互接続した例がなく、多者間通信ネットワークの構築が課題となっている。 今回、三菱電機とNECは、量子暗号システムを相互に接続するインターフェイス機能と暗号鍵を共有する機能を新たに開発。その方式を用いて両社の端末間で相互通信する実証実験を行い、複数の量子暗号システム間で利用可能なことを確認した。また、従来個別にシステムの安全性評価を行っていたものを、東大生研の今井秀樹前教授（現、中央大学教授兼産業技術総合研究所 研究センター長）のグループが、最新の量子暗号理論とセキュリティ技術の視点から実装により発生する脆弱性、さらに盗聴により漏えいする情報を解析し、開発した方式が安全であることを検証・確認している。 今後は、引き続き相互接続可能な量子暗号システムの研究に取り組み、5年後を目標に量子暗号ネットワークの実用化を目指すとしている。 ■ ＵＲＬ 三菱電機株式会社 http://www.mitsubishielectric.co.jp/ 日本電気株式会社 http://www.nec.co.jp/ 東京大学生産技術研究所 http://www.iis.u-tokyo.ac.jp/ プレスリリース http://www.nec.co.jp/press/ja/0605/1202.html
（ 福浦 一広 ）
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